अभ्रक बोर्डों की दीर्घकालिक उम्र बढ़ने के कारणों का विश्लेषण

FR4 प्लेटों के उपयोग या भंडारण के दौरान, उनका कार्य समय के साथ अपरिवर्तनीय रूप से कम हो जाएगा। अभ्रक बोर्डों के संचालन की विश्वसनीयता काफी हद तक इन्सुलेशन डेटा की उम्र बढ़ने की विशेषताओं पर निर्भर करती है। आँकड़ों के अनुसार।FR4 प्लेटों के उपयोग या भंडारण के दौरान, उनका कार्य समय के साथ अपरिवर्तनीय रूप से कम हो जाएगा।

अभ्रक बोर्डों के संचालन की विश्वसनीयता काफी हद तक इन्सुलेशन डेटा की उम्र बढ़ने की विशेषताओं पर निर्भर करती है।आंकड़ों के अनुसार, विद्युत उपकरणों की विफलता दर का इन्सुलेशन डेटा के उपयोग के समय के साथ महत्वपूर्ण संबंध है, और इस सहसंबंध वक्र को स्लॉट वक्र कहा जाता है।

वक्र में तीन क्षेत्र:

1 प्रारंभिक दोष क्षेत्र आमतौर पर सामग्री की गुणवत्ता दोष या बाद की निर्माण प्रक्रियाओं के कारण होते हैं;

2 यादृच्छिक विफलता क्षेत्र मुख्य रूप से संचालन में असामान्य स्थितियों के कारण होता है;

3 दोष क्षेत्र उम्र बढ़ने के कारण होता है, और उपयोग के समय के साथ दोष दर बढ़ जाती है।